Kādi ir ESD bojājumi elektroniskajām ierīcēm
ESD bojājumi elektroniskajām ierīcēm ESD bojājumi elektroniskajām ierīcēm neatkarīgi no tā, vai ESD tieši izlādē elektroniskās ierīces vai netieši izlādē elektroniskās ierīces, elektroniskās ierīces var tikt bojātas. Tas var ne tikai izraisīt pēkšņu ierīces darbības atteici, bet arī izraisīt iespējamu ierīces darbības kļūmi.
1. Pēkšņa neveiksme
Pēkšņa kļūme nozīmē, ka, elektroniskai ierīcei pakļaujot ESD vidi, ķēdes parametri var būtiski mainīties un tās funkcija var tikt zaudēta. ESD var izraisīt metāla kušanu un izraisīt īssavienojumu vai izolācijas slāņa bojājumu utt., radot neatgriezeniskus ierīces ķēdes bojājumus. Šādas kļūmes var atklāt gatavā produkta testēšanā pirms nosūtīšanas. Saskaņā ar attiecīgo statistiku starp statiskās elektrības bojātajām elektroniskajām ierīcēm pēkšņas atteices veido aptuveni 10% no visiem bojājumiem.
Spēcīgs elektrostatiskais lauks izraisīs MOS lauka efekta ierīces vārtu oksīda slāņa noārdīšanos un izraisīs ierīces atteici. Parasti MOS ierīču vārtu oksīda plēves biezums ir aptuveni 1 (T7 m). Ja ķēdes konstrukcijā netiek veikti aizsardzības pasākumi, pat blīvs un bez caurumiem augstas kvalitātes oksīda slānis tiks nojaukts zem elektrostatiskā sprieguma 100 V. Attiecībā uz ķēdēm ar aizsardzības pasākumiem, lai gan pārrāvuma spriegums var būt lielāks par 100 V, bīstamo statisko strāvas avotu spriegums var būt vairāki tūkstoši voltu vai pat desmitiem tūkstošu voltu. Tāpēc augstsprieguma elektrostatisko lauku sabrukšanas efekts joprojām ir liels apdraudējums MOS ķēdēm. Turklāt augstsprieguma elektrostatiskais lauks var izraisīt arī dielektrisku sadalījumu starp daudzslāņu vadu ķēdēm vai dielektrisku sadalījumu starp metalizētiem vadiem, izraisot ķēdes atteici.
2. Iespējama kļūme
Potenciāla kļūme nozīmē, ka, ja ierīce tiek pakļauta ESD videi, tā var izraisīt daļēju ierīces' veiktspējas pasliktināšanos, bet īslaicīgi neietekmē tās pareizu darbību. Tomēr ierīces kalpošanas laiks ir ievērojami saīsināts. Šis kaitējums ir kumulatīvs. Pieaugot piedzīvoto ESD impulsu skaitam, pakāpeniski tiek samazināts ierīces elektrostatiskā bojājuma sprieguma slieksnis vai arī ierīces parametri lēnām pasliktinās. Saskaņā ar statistiku iespējamās atteices veido 90% no kopējā ESD kļūmju skaita elektroniskajās ierīcēs. Tāpēc iespējamā elektronisko ierīču atteice ir kaitīgāka.