Elektrostatiskās izlādes izraisīto bojājumu veids mikroelektroniskās ķēdēs
Metāla elektroinstalācija un difūzijas reģiona (vai polikristāliskā) kontakta caurums rada dzirksteles, izraisot metāla un silīcija skābekļa kontaktu.
Ja mezgla temperatūra pārsniedz pusvadītāju silīcija kušanas temperatūru (1415 ° C), silīcijs tiek izkausēts, lai radītu rekristalizāciju, izraisot īssavienojumu ierīcē. Metalizētie elektrodi un elektroinstalācijas tiek izkausētas un "sferoidizēti", radot ķēdes atvēršanu. Liela strāva plūst caur PN mezglu, lai radītu Joule siltumu, kas izraisa krustojuma temperatūras paaugstināšanos, veidojot "karsto punktu" vai "karstu palaist", izraisot ierīces bojājumus. Elektrostatiskās izlādes izraisītais momentānais augstais strāvas avots (statiskā dzirkstele) aizdegas un aizdegas uzliesmojošas un sprādzienbīstamas gāzes. Maisījumi vai elektriskās uguņošanas ierīces, kas izraisa nejaušas degšanas un sprādziena avārijas.
Elektrostatiskā izlāde izraisa cilvēka ķermeņa triecienus, izraisot sekundārus negadījumus un elektrostatiskā lauka Coulomb spēku, kas kavē automatizētās ražošanas līnijas, piemēram, tekstila, poligrāfijas un plastmasas iepakojumu. Trešo veidu elektrostatisko apdraudējumu izraisa elektromagnētiskais starojums, ko izraisa elektrostatiskā izlāde vai elektromagnētiskie traucējumi, ko izraisa elektrostatiskās izlādes elektromagnētiskais impulss (ESDEMP) elektroniskajās iekārtās.
Kopumā elektrostatiskās izlādes tiek veiktas pēc mikrosekundēm vai nātrija sekundēm, tāpēc šis process ir adiabātisks process, kurā caur cilpu tiek novadīta liela strāva, veidojot lokalizētu augstas temperatūras siltuma avotu. Mikroelektronisko ierīču gadījumā elektrostatiskā izlāde tiek izvadīta caur ierīci, un vidējā jauda var sasniegt vairākus kilovatus. Siltumu ir grūti izkliedēt no enerģijas izkliedēšanas virsmas, tādējādi veidojot lielu temperatūras gradientu ierīcē, izraisot lokālus siltuma bojājumus. Circuit veiktspēja pasliktinās vai neizdodas.